仪器名称
场发射透射电子显微镜
型 号
JEM-2100F
仪器编号
仪器来源
购置
生产厂商
日本JEOL公司
启用日期
2013-6-24
仪器类别
材料显微结构测试仪器
仪器原值
所在单位部门
中科院化学研究所-分析测试中心电镜组
仪器负责人
关波
联系电话
010-62588935
地 址
北京市海淀区中关村北一街2号
邮 编
100190
E-mail
guanbo@iccas.ac.cn
主要技术指标
加速电压：200kV ；极靴类型：UHR超高分辨；放大倍率：×50～×1,500,000；点分辨率：0.19nm；STEM分辨率：0.20nm
包含主要附件
STEM，能谱
仪器主要功能
用于对材料的微观形貌、晶体结构分析和高分辨电子显微学研究，附件能谱可实现材料微区元素组成分析，STEM可拍摄明暗、暗场及Z衬度像。
仪器服务领域
适用于化学、物理学、生物学等领域中材料的微观结构及成分分析
计量认证资质
否
实验室认可
仪器现状
正常
收费标准
800元/小时
仪器图片
